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上海儀電分析760CRT紫外/可見分光光度計(jì)
更新時(shí)間：2024-11-13
訪問(wèn)次數(shù)：57
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品廠地：南京市
產(chǎn)品報(bào)價(jià)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：上海儀電分析760CRT紫外/可見分光光度計(jì)：儀器具有波長(zhǎng)掃描、時(shí)間掃描定量分析、定波長(zhǎng)測(cè)試、多波長(zhǎng)測(cè)試等功能，適合用于生物化學(xué)、環(huán)境保護(hù)、化學(xué)工業(yè)等實(shí)驗(yàn)室的日常分析和研究工作的需要。
| 品牌 | 儀電分析 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,綜合 |
上海儀電分析760CRT紫外/可見分光光度計(jì)：
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
| 型號(hào) | 760CTR |
| 測(cè)光方式 | 雙光束 |
| 單色器 | Czerny -Turner |
| 焦距 | 200mm |
| 光柵 | 全息閃耀，1600線/mm |
| 光束分光系統(tǒng) | 斬波器 |
| 檢測(cè)器 | 進(jìn)口光電倍增管 |
| 光譜帶寬 | 0.08～5nm,間隔0.01nm連續(xù)可調(diào) |
| 波長(zhǎng)設(shè)定 | 電腦輸入 |
| 波長(zhǎng)范圍 | 190nm～900nm |
| 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | ±0.3nm(內(nèi)裝自動(dòng)波長(zhǎng)校正裝置) |
| 波長(zhǎng)重復(fù)性 | ≤0.2nm |
| 分辨率 | 優(yōu)于0.15nm |
| 光度準(zhǔn)確度 | ±0.3%(T)(以NB5930D測(cè)定) |
| 光度重復(fù)性 | ≤0.2%(T) |
| 雜散光 | ≤0.08%(T)(在220nm處，以Nal測(cè)定)(在360nm處，以NaN02測(cè)定) |
| 基線平直度 | ≤±0.002(A) |
| 噪聲 | ±0.3%((100 T%處)±0.1%(0 T%處) |
| 掃描速度 | 快、中、慢 |
| 基線漂移 | ≤±0.004 A/30min |
| 電源電壓 | AC220V±22V50Hz±1Hz |
| 功率 | 300 W |
比例雙光束光路
采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率低雜散光,測(cè)光精度高，穩(wěn)定性能好
微機(jī)控制 自動(dòng)記錄
打印機(jī)可在一張記錄紙上打印出含有光譜圖、測(cè)試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)的測(cè)試報(bào)告,采用長(zhǎng)壽命進(jìn)口光電倍增管，進(jìn)口燈和長(zhǎng)壽命鎢燈
上海儀電分析760CRT紫外/可見分光光度計(jì)產(chǎn)品介紹與軟件
760CRT雙光束紫外可見分光光度計(jì)是軟件基于Windows7平臺(tái)的全自動(dòng)分光光度計(jì)，界面友好、美觀，操作簡(jiǎn)單，通過(guò)打印機(jī)可打印出圖文合一的分析報(bào)告，并可將圖譜數(shù)據(jù)或測(cè)試數(shù)據(jù)傳送Execl進(jìn)行處理，可將圖譜貼至Word中發(fā)表。儀器具有波長(zhǎng)掃描、時(shí)間掃描定量分析、定波長(zhǎng)測(cè)試、多波長(zhǎng)測(cè)試等功能，適合用于生物化學(xué)、環(huán)境保護(hù)、化學(xué)工業(yè)等實(shí)驗(yàn)室的日常分析和研究工作的需要。
軟件特點(diǎn):
信息存貯容量大，保存方便。
軟件提供四個(gè)圖譜通道臨時(shí)貯存圖譜，進(jìn)行圖譜疊加處理，對(duì)圖譜可進(jìn)行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運(yùn)算、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算。
圖譜的峰谷檢測(cè)、縮放輕松自如。
時(shí)間掃描可進(jìn)行動(dòng)力學(xué)研究。
定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進(jìn)行曲線擬合及異常點(diǎn)剔除、2入的測(cè)定。
軟件提供了定波長(zhǎng)和多波長(zhǎng)測(cè)試，并可對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行注釋，對(duì)同一樣品多用戶的測(cè)試提供了方便，多波長(zhǎng)測(cè)試則可進(jìn)行多達(dá)20個(gè)點(diǎn)波長(zhǎng)的測(cè)試。
可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當(dāng)前測(cè)試條件。
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